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年度文章数/年5年平均分非自引分自引率%IFoid
20233101.61.412.51.6
20223291.70011.412.51.6
20213551.63391.215114.31.4181
20203441.5711.340115.71.5889
20193161.4031.3512.11.5348
20185261.44711.19119.71.4831
20174031.4661.00618.61.2361
20164191.62311.127117.81.371
20154131.28510.93222.51.2018
20144221.33611.189171.433
20133151.20591.005117.21.2141
20124581.20120.87123.41.1369
20113741.2120.8923.71.1669
20103411.05310.87420.61.101
期刊名称Microelectronics Reliability期刊简称MICROELECTRON RELIAB
ISSN0026-2714eISSN1872-941X
最新JCI0.28审稿周期(月)
出版周期(月)Monthly投稿命中率(%)
中国人发表比例(%)2023年中国人文章占该期刊总数量暂无数据 (2022年为100.00%)期刊类别SCI/SCIE
Gold OA文章占比6.23研究领域Engineering, Electrical & Electronic | Nanoscience & Nanotechnology | Physics, Applied
出版年份1964是否OA
出版国家Netherlands 荷兰出版商PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD
出版商地址THE BOULEVARD, LANGFORD LANE, KIDLINGTON, OXFORD, ENGLAND, OX5 1GB
被收录情况Science Citation Index|Science Citation Index Expanded|Current Contents - Engineering, Computing & Technology
论文类型绝大部分收录论著,也接收少量其它类型文章
期刊语种English期刊预警
预警详情
说明1、最新JCI和“Gold OA文章占比”等是2023年11月份最新数据,IF是2024年6月份发表的数据。 2、Ifoid即国内常用的影响因子(IF)。 3、搜索某研究方向的期刊时,请用英文搜索,如肿瘤,用“oncology”或“cancer”;“纳米”用“nanoparticle”或“nano”或“small”或“material”等。 4、如果您发现有数据错误,请给我们留言或联系客服纠正,以帮助其他同道朋友。被采纳后,我们将会送您10-100积分以示感谢(该部分积分可以购物,不可提现)。 5、Editorial De-listing除名:该期刊已被重新评估,但不符合一项或多项质量标准,因此从Web of Science核心馆藏中删除;Production De-listing除名:由于未收到出版商的内容,期刊已从Web of Science核心馆藏中删除;Cease:该期刊已停止出版,因此不再包含在Web of Science核心馆藏中。 6、本网期刊信息仅供参考,与期刊官方不同之处,以官方为准。
相关链接期刊简介 (PubMed)全文检索PubmedWOS期刊核查期刊知识
2023年中科院SCI分区
大类学科:工程技术4区
小类学科:工程:电子与电气4区 纳米科技4区 物理:应用4区
2023年JCR分区
PHYSICS, APPLIED - SCIE(Q3)
2022年中科院SCI分区
大类学科:工程技术4区
小类学科:工程:电子与电气4区 纳米科技4区 物理:应用4区
2022年JCR分区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC - SCIE(Q4)
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY - SCIE(Q4)
PHYSICS, APPLIED - SCIE(Q4)
2021年中科院SCI分区
大类学科:工程技术4区
小类学科:工程:电子与电气4区 纳米科技4区 物理:应用4区
2021年JCR分区
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY - SCIE(Q4)
PHYSICS, APPLIED - SCIE(Q4)
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC - SCIE(Q4)
2020年中科院SCI分区
大类学科:工程技术4区
小类学科:工程:电子与电气4区 纳米科技4区 物理:应用4区
2020年JCR分区
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