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| 年度 | 文章数/年 | 5年平均分 | 非自引分 | 自引率% | IFoid |
|---|---|---|---|---|---|
| 2021 | 80 | 2.0238 | 1.7558 | 6.9 | 1.8859 |
| 2020 | 92 | 1.7768 | 1.6439 | 6.6 | 1.761 |
| 2019 | 101 | 1.5181 | 1.294 | 8 | 1.4072 |
| 2018 | 79 | 1.6632 | 1.5078 | 4.7 | 1.5828 |
| 2017 | 98 | 1.7189 | 1.3408 | 11.3 | 1.5122 |
| 2016 | 89 | 1.7228 | 1.4648 | 7 | 1.5751 |
| 2015 | 81 | 1.5181 | 1.2861 | 10.5 | 1.4372 |
| 2014 | 147 | 1.8878 | 1.5751 | 16.7 | 1.8901 |
| 2013 | 66 | 1.6958 | 1.4629 | 5.2 | 1.544 |
| 2012 | 80 | 1.7602 | 1.3332 | 12.1 | 1.5161 |
| 2011 | 67 | 1.6729 | 1.339 | 13.2 | 1.5428 |
| 2010 | 59 | 1.626 | 1.403 | 6.7 | 1.5031 |
| 期刊名称 | Ieee Transactions On Device And Materials Reliability | 期刊简称 | IEEE T DEVICE MAT RE |
| ISSN | 1530-4388 | eISSN | 1558-2574 |
| 最新JCI | 0.46 | 审稿周期（月） | |
| 出版周期（月） | Quarterly | 投稿命中率（%） | |
| 中国人发表比例（%） | 2023年中国人文章占该期刊总数量暂无数据 (2022年为100.00%) | 期刊类别 | SCIE |
| Gold OA文章占比 | 5.7 | 研究领域 | Engineering, Electrical & Electronic | Physics, Applied |
| 出版年份 | 2001 | 是否OA | 否 |
| 出版国家 | United States 美国 | 出版商 | IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC |
| 出版商地址 | 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141 | ||
| 被收录情况 | Science Citation Index Expanded|Current Contents - Engineering, Computing & Technology | ||
| 论文类型 | 绝大部分收录论著，也接收少量其它类型文章 | ||
| 期刊语种 | English | 期刊预警 | 否 |
| 预警详情 | |||
| 说明 | 1、最新JCI和“Gold OA文章占比”等是2023年11月份最新数据，IF是2022年12月份发表的数据。 2、Ifoid即国内常用的影响因子（IF）。 3、搜索某研究方向的期刊时，请用英文搜索，如肿瘤，用“oncology”或“cancer”；“纳米”用“nanoparticle”或“nano”或“small”或“material”等。 4、如果您发现有数据错误，请给我们留言或联系客服纠正，以帮助其他同道朋友。被采纳后，我们将会送您10-100积分以示感谢（该部分积分可以购物，不可提现）。 5、Editorial De-listing除名：该期刊已被重新评估，但不符合一项或多项质量标准，因此从Web of Science核心馆藏中删除；Production De-listing除名：由于未收到出版商的内容，期刊已从Web of Science核心馆藏中删除；Cease：该期刊已停止出版，因此不再包含在Web of Science核心馆藏中。 6、本网期刊信息仅供参考，与期刊官方不同之处，以官方为准。 | ||
| 相关链接 | 期刊简介 (PubMed)期刊官网投稿链接WOS期刊核查期刊知识 | ||
